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长贮推进剂贮箱腐蚀的热波检测与剩余寿命预测

长贮推进剂贮箱腐蚀的热波检测与剩余寿命预测

定  价:98 元

丛书名:航天推进剂技术

        

  • 作者:金国锋、杨正伟、田干 著
  • 出版时间:2026/1/1
  • ISBN:9787122491756
  • 出 版 社:化学工业出版社
  • 中图法分类:V421.3 
  • 页码:156
  • 纸张:
  • 版次:01
  • 开本:16开
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读者对象:本书可供高等学校和科研院所材料、航空航天、兵器、机械工程以及其他相关学科的师生和研究人员阅读参考。

《长贮推进剂贮箱腐蚀的热波检测与剩余寿命预测》围绕长贮液体推进剂贮箱的腐蚀问题展开,重点介绍贮箱材料腐蚀的产生及其演化规律、贮箱腐蚀损伤的热波检测理论基础及应用可行性分析、贮箱腐蚀损伤的热波检测定量识别方法与试验技术,以及基于热波检测的贮箱腐蚀剩余寿命预测。本书力求理论联系实际,提供较丰富的相关理论及实验实例表述,对相关领域教学和科研人员具有较好的指导意义。 本书可供高等学校和科研院所材料、航空航天、兵器、机械工程以及其他相关学科的师生和研究人员阅读参考。
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