书单推荐
更多
新书推荐
更多

RTL设计师面试攻略

RTL设计师面试攻略

定  价:68 元

        

  • 作者:孙健,魏东
  • 出版时间:2026/1/1
  • ISBN:9787030838216
  • 出 版 社:科学出版社
  • 中图法分类:TN402 
  • 页码:187
  • 纸张:
  • 版次:1
  • 开本:16
9
7
8
8
3
7
8
0
2
3
1
0
6

读者对象:数字IC设计工程师,高等院校微电子、自动化、电子信息等相关专业师生

本书从RTL设计师视角出发,系统梳理ASIC/VLSI行业标准工作流程中的关键知识与面试要点,通过分享行业经验与独特视角,帮助读者理解企业所需技能,提升面试竞争力,斩获心仪职位。
  全书分为三大部分:第一部分围绕架构与微架构展开,涵盖CPU流水线、CPU乱序调度、虚拟内存和TLB、缓存一致性、FIFO、CDC、LRU算法、重排序、仲裁器、数字分频器、算术逻辑设计、序列产生器等;第二部分聚焦验证、实现、综合与功耗,详细讲解设计验证、形式验证、CDC检查、RDC检查、ECO流程等;第三部分涉及物理设计和芯片调试,包括STA、SDC、时序ECO等;同时在末尾分享行为类问题及实用面试建议等。


更多科学出版社服务,请扫码获取。
 你还可能感兴趣
 我要评论
您的姓名   验证码: 图片看不清?点击重新得到验证码
留言内容