电子学系统辐射效应与加固技术

定　　价：128 元

• 作者：许献国，曾超著
• 出版时间：2023/5/1
• ISBN：9787576705409
• 出 版 社：哈尔滨工业大学出版社

• 中图法分类：TN6 
• 页码：390页
• 版次：1
• 开本：24cm

内容简介

本书系统性地介绍辐射对电子学系统的损伤机制、研究方法和加固技术。第1-3章介绍辐射环境、辐射与物质的相互作用，以及电子元器件的辐射效应；第4-6章介绍多物理响应与多物理场作用、辐射效应的试验与测试，以及辐射环境与辐射效应的计算与仿真；第7章和第8章介绍电子学系统抗辐射加固技术与抗辐射性能评估。附录提供了常用的辐射效应数据以便查询。